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扩张

原子力显微镜

witec afm原则

原子力显微镜(AFM)通过记录表面和安装在悬臂上的尖锐尖端之间的相互作用力来追踪具有极高到原子分辨率的样品的地形。AFM提供平行的空间信息,并垂直于表面。除了地形高分辨率信息外,还可以通过分析尖端样本相互作用力来研究局部材料(例如粘附和刚度)。


Witec的原子力显微镜

整合到研究级光学显微镜中的WITEC原子力显微镜可提供优质的光学访问,确切的悬臂比对和高分辨率样本调查。使用压电驱动的扫描阶段将样品扫描在尖端下方,结果(例如地形等)作为图像显示。

光学模式与高级摄像机系统结合使用,可以进行高分辨率样本调查和快速选择利益。通过同时样品和AFM-CANTILEVER的视图,可以轻松地识别和调整测量位置。使用其他照明和检测技术(例如明亮场,深色场,极化,荧光等),用户可以进一步确定AFM测量的利益点。通过简单地旋转显微镜炮塔,用户可以快速,准确地在光学和AFM模式之间切换,从而在AFM模式下保持光学显微镜的外观和感觉。

witec afm梁路径
梁路径
witec afm样品悬臂视图
同时进行悬臂和样品视图,以便于识别和调整测量位置。

数字脉冲力模式

数字脉冲力模式(DPFM)是一种非共鸣的间歇性接触模式。它避免了在软样品上以接触模式运行并提供其他样本信息的表面损伤。

当添加到AFM系统中时,DPFM将显微镜的功能扩展到简单地测量地形到诸如局部刚度,粘附,粘度,能量耗散,接触时间,远距离力量等属性。因为该系统每秒最多可工作几千像素。

DPFM的电子设备包括高速数据收购系统,可自由编程的调制发电机和实时数据评估模块。随着完整测量的存储,进行了广泛的后处理数据评估。

witec afm dpfm
DPFM电子设备在AFM的Z-Piezo中引入了正弦调制,在100 Hz至2 kHz之间,幅度为10-500 nm,远低于悬臂的谐振频率。以这种重复速率进行完整的力距离周期,从而导致显示的力信号。
WITEC DPFM曲线

AFM与其他显微镜方法结合

WITEC系统的模块化设计允许将各种成像技术(例如拉曼成像,荧光,发光,原子力显微镜(AFM)(AFM)和近场显微镜(SNOM或NSOM)以及一种仪器以及一种更全面的相关样品中分析。仅通过旋转显微镜炮塔来完成不同模式之间的切换。

拉曼和AFM

通过将共聚焦拉曼成像与AFM耦合,样品的化学特性可以很容易地与其表面结构相关。这两种互补技术可在我们的组合拉曼 - AFM显微镜α300RA中获得,以易于灵活而全面的样品表征。

TER(尖端增强的拉曼光谱)是相关的拉曼 - AFM显微镜的典型应用。

WITEC RAMAN AFM聚合物混合物
与拉曼(左)和AFM(右)成像的聚合物混合在同一样品区域上,带有iecinatorial witec raman-afm显微镜。

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