时间相关的单光子计数

随着时间分辨的发光显微镜（TLM），可以研究发光设备（例如LED）的发光特性，可以揭示出空间差异。电脉冲发生器刺激光发射，并以时间分辨的方式记录其强度。因此，可以为每个图像像素计算放松时间或响应时间并可视化。TLM可用于例如用于LED的质量控制。

时间分辨的发光显微镜（TLM）在蓝光发射二极管（LED）上。
左：局部放松时间的地图；比例尺7 µm。
右：发光发射时间开始的轮廓图；比例尺10 µm。

荧光寿命成像显微镜（FLIM）确定脉冲激光激发后时间分辨荧光衰减的每个图像像素的平均荧光寿命。所得的FLIM图像根据寿命进行颜色编码，并在样品中显示其空间分布。结合其他成像技术（例如拉曼成像或AFM），FLIM扩展了从一个样本中获得的信息量。

N，N' -BIS（1-乙基丙基）的荧光寿命成像（FLIM）-3,4,9,10-丙烯比（DiCarboximide）（EPPTC）晶体针头。左：总荧光强度；比例尺5 µm。右：flim;比例尺5 µm。
图像是由Xinping Zhang的礼貌，北京技术大学信息光子技术学院和应用科学学院的礼貌。