聚合物在现代材料科学中具有重要位置。由于聚合物的机械和化学特性不同,它们几乎在每个应用领域都使用,对于开发具有苛刻要求的新材料很重要。WITEC成像系统启用了全面的样品分析,可在纳米尺度上彻底表征聚合物的物理和化学性质。
WITEC的高度用途仪器可以结合各种成像技术,以显着增加测量结果提供的见解。可以包含在单个显微镜设置中的可能组合包括共聚焦拉曼成像,原子力显微镜(AFM),近场微观显微镜(SNOM)和扫描电子显微镜(SEM)。共聚焦拉曼成像提供化学信息,AFM检测样品表面的刚度,粘附等的地形,结构和物理特性,而SNOM高分辨率测量可以在光学上超出衍射极限。所有WITEC仪器配置都可以在任何时候升级,以使系统适应新的或扩展要求。