材料科学是一个多样化的领域,包括开发和测试新物质,以及对现有产品的制造过程和质量控制的完善。WITEC成像系统特别非常适合材料科学的全面样本分析,并提供了获得对样品表面形态和化学组成的透彻知识的机会。
WITEC的高度用途仪器可以结合各种成像技术,以显着增加测量结果提供的见解。可以包含在单个显微镜设置中的可能组合包括共聚焦拉曼成像,原子力显微镜(AFM),近场微观显微镜(SNOM)和扫描电子显微镜(SEM)。共聚焦拉曼成像提供化学信息,AFM检测样品表面的刚度,粘附等的地形,结构和物理特性,而SNOM高分辨率测量可以在光学上超出衍射极限。所有WITEC仪器配置都可以在任何时候升级,以使系统适应新的或扩展要求。