取证中的关键任务包括对非常小的对象的显微镜分析,以便准确验证样品中特定化合物的来源,或比较几个样品的特性。WITEC成像系统使综合样品分析能够彻底表征取证中各种样品的物理和化学性质。例如,共聚焦拉曼成像是这些研究的非常有效的工具,因为它提供了有关化学成分以及组件的空间分布的信息。这些样品通常不需要特定的样品制备,并且由于拉曼成像是一种无损,非接触式和非抗激素分析技术,因此对其他方法进行进一步研究。
WITEC的高度用途仪器可以结合各种成像技术,以显着增加测量结果提供的见解。可以包含在单个显微镜设置中的可能组合包括共聚焦拉曼成像,原子力显微镜(AFM),近场微观显微镜(SNOM)和扫描电子显微镜(SEM)。共聚焦拉曼成像提供化学信息,AFM检测样品表面的刚度,粘附等的地形,结构和物理特性,而SNOM高分辨率测量可以在光学上超出衍射极限。所有WITEC仪器配置都可以在任何时候升级,以使系统适应新的或扩展要求。