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氧化硅

二氧化硅(SiO2它的各种形式是半导体、MEMs和光电子器件的必要材料。石英用于增强现实(AR)的光栅;掺杂氧化物用于波导和SiO2可用于器件钝化。SiO2可沉积和蚀刻使用几种技术:

二氧化硅

100年PlasmaPro北极星将独特的静电夹钳(ESC)技术与我们建立良好的Cobra300 ICP源。这提供了卓越的重复性,同时保持高刻蚀率和剖面质量。

工艺优化,以最佳的控制轮廓在优化蚀刻率。

在ICP 请求更多的信息

高纵横比高质量的纳米SiO2腐蚀

各向异性和各向同性剖面可在竞争蚀刻率优化均匀性。

更多关于RIE 请求更多的信息

卓越的控制轮廓与专业知识优化倾斜的特点。

更多关于IBE 请求更多的信息

优良的材料质量和低损害,即使在低沉积温度。

更多关于“肾上腺脑白质退化症” 请求更多的信息
二氧化硅保形性

与短周期(90 ms prec)的符合度非常高。4.5 s等离子体)。礼貌你/ e

具有极好的厚度和折射率均匀性,并可在高沉积速率下控制应力。可以使用不同的化学物质:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 硅氮4/ O2
  • 张志贤/ O2
  • 低BOE的高质量薄膜
  • 折射率控制
  • 低温沉积可达20°C
  • 沉积速率为5-100nm/min
  • 使用GeH可能掺杂4PH值,3.B2H6三甲,TMP。
  • 单一晶片尺寸:200毫米
  • 批处理大小:5 x2”
  • 单一晶片尺寸:300毫米
  • 批处理大小:高达22x2", 9x3"5x100mm, 3x120mm
更多关于ICPCVD 请求更多的信息
用正硅酸乙酯沉积SiO2

SiO2使用TEOS和O沉积2在~50μm深沟槽中采用4:1的纵横比进行ICP CVD

具有良好的厚度和折射率均匀性。应力控制可在高沉积速率。可以使用不同的化学物质:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 张志贤/ O2
  • 低BOE的高质量薄膜
  • 折射率控制
  • 沉积速率从5->1000nm/min
  • 使用GeH可能掺杂4PH值,3.B2H6三甲,TMP。
  • 单一晶片尺寸:200毫米
  • 批处理大小:到9x2", 4x3"

  • 单一晶片尺寸:300毫米
  • 批处理大小:高达43x2", 19x3", 10x100mm, 7x120mm, 4x150mm, 2x200mm

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优异的化学计量学与竞争的沉积速率。

在炎症性肠病 请求更多的信息

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