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半导体失效分析(FA)需要艰苦的探测工作，以了解故障的来源，以便将它们从批量生产中移除。这可以包括:理解缺陷的化学性质及其形成原因;分析焊点内的应变，以预先预防关键故障，并在设备寿命期间映射掺杂剂分布的变化。本次网络研讨会将详细介绍牛津仪器的解决方案如何帮助您检测并帮助克狗万正网地址服半导体器件生产过程中目前面临的这些和其他挑战，包括:
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