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氧化硅

二氧化硅(SiO2)是半导体、MEMs和光电子器件的重要材料。石英用于增强现实(AR)的光栅;掺杂氧化物用于波导和SiO2可用于设备钝化。SiO2可以使用以下几种技术进行沉积和蚀刻:

二氧化硅

PlasmaPro 100 Polaris将独特的静电钳(ESC)技术与我们成熟的Cobra300 ICP源结合在一起。这提供了优秀的重复性,同时保持高蚀刻速率和轮廓质量。

工艺优化,以优化的蚀刻速度,卓越的控制轮廓。

更多关于ICP 索取更多资料

高展弦比高质量纳米级SiO2腐蚀

各向异性和各向同性轮廓可在竞争蚀刻率和优化的均匀性。

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在优化特征倾斜方面具有专业知识的出色的轮廓控制。

更多关于IBE 索取更多资料

优异的材料质量和低损伤,即使在较低的沉积温度。

更多关于ALD 索取更多资料
二氧化硅保形性

非常高的一致性与短周期时间(90毫秒prec。4.5 s等离子体)。礼貌你/ e

优异的厚度和折射率均匀性,以及高沉积速率下的应力控制。可以使用不同的化学物质:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 硅氮4/ O2
  • 张志贤/ O2
  • 高质量薄膜,低BOE
  • 折射率控制
  • 低温沉积降至20℃
  • 沉积速率从5-100nm/min
  • 掺杂可能使用GeH4PH值,3.B2H6, tmb, tmp。
  • 单片尺寸:最大可达200mm
  • 批处理大小:最高可达5x2”
  • 单片尺寸:最大可达300mm
  • 批处理大小:可达22x2", 9x3"5x100mm, 3x120mm
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用TEOS沉积SiO2

SiO2使用TEOS和O沉积2采用ICP CVD法,在~50μm深沟槽中以4:1纵横比测量

极好的厚度和折射率均匀性。可在高沉积速率下控制应力。可以使用不同的化学物质:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 张志贤/ O2
  • 高质量薄膜,低BOE
  • 折射率控制
  • 沉积速率从5->1000nm/min
  • 掺杂可能使用GeH4PH值,3.B2H6, tmb, tmp。
  • 单片尺寸:最大可达200mm
  • 批处理大小:可达9x2", 4x3"

  • 单片尺寸:最大可达300mm
  • 批处理大小:可达43x2”,19x3”,10x100mm, 7x120mm, 4x150mm, 2x200mm

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优秀的化学计量与竞争的沉积速率。

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