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氧化硅

二氧化硅(SiO2)是半导体、微机电系统和光电子器件的基本材料。石英用于增强现实(AR)的光栅;掺杂氧化物用于波导和SiO2可用于设备钝化。SiO2可采用几种技术沉积和蚀刻:

二氧化硅

PlasmaPro 100北极星汇集了独特的静电钳(ESC)技术以及我们完善的Cobra300 ICP源。这提供了出色的可重复性,同时保持高蚀刻率和轮廓质量。

工艺优化,以最佳的蚀刻速率对轮廓进行了出色的控制。

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高纵横比高质量的纳米SiO2腐蚀

各向异性和各向同性剖面可在竞争性蚀刻速率与优化均匀性。

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卓越的控制轮廓与专业知识,优化倾斜的特点。

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优异的材料质量和低损伤,即使在低沉积温度下。

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二氧化硅保形性

非常高的符合性,周期时间短(90毫秒)。4.5 s等离子体)。礼貌你/ e

优异的厚度和折射率均匀性,以及高沉积速率下的应力控制。可以使用不同的化学试剂:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 硅氮4/ O2
  • 张志贤/ O2
  • 低BOE的高质量薄膜
  • 折射率控制
  • 低温沉积可达20°C
  • 沉积速率为5-100nm/min
  • 可能使用GeH掺杂4PH值,3.B2H6, tmp, tmp。
  • 单晶圆尺寸:最大200mm
  • 批处理大小:最大5x2"
  • 单晶圆尺寸:最大300mm
  • 批处理大小:最大可达22x2", 9x3"5x100mm, 3x120mm
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用TEOS沉积SiO2

SiO2使用TEOS和O沉积2在~50μm深的沟槽中采用ICP CVD,长宽比为4:1

厚度和折射率均匀性好。应力控制可在高沉积速率。可以使用不同的化学试剂:纯硅烷和稀释硅烷。

  • 硅氮4/ N2O
  • 张志贤/ O2
  • 低BOE的高质量薄膜
  • 折射率控制
  • 沉积速率为5 ~ 1000nm/min
  • 可能使用GeH掺杂4PH值,3.B2H6, tmp, tmp。
  • 单晶圆尺寸:最大200mm
  • 批处理大小:最大可达9x2", 4x3"

  • 单晶圆尺寸:最大300mm
  • 批处理大小:最大可达43x2”、19x3”、10x100mm、7x120mm、4x150mm、2x200mm

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优异的化学计量学,具有竞争性的沉积速率。

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