分析一种使用低kV EDS的NAND闪存设备
X-Max Extreme与GeminiSEM 500的结合为研究小于10nm的纳米结构的形态和化学提供了独特方便和强大的成像和分析工具。以铈铁纳米粒子和GaInAs量子点为例,这种能力在实践中得到了证明。
Ultim Max EDS探测器采用高端技术,在不影响精度或质量的情况下,提供无与伦比的速度和灵敏度。这一系列探测器结合了最大的传感器尺寸(高达170mm2)与极限电子,以提供卓越的性能。
只有Ultim Max能够保证所有传感器尺寸在低(CKa和FKa)和高能(MnKa)条件下的性能,同时具有130,000cps的高产计数率。在运输前和安装时都在扫描电镜上进行性能测试,以确保每台Ultim Max即使在最苛刻的分析条件下(高计数率,低kV,现场测试)也能提供出色的结果。
所有Ultim Max探测器都可以在需要时轻松快速地插入,并在不使用时收回,这得益于集成的电动滑梯。
Ultim Max是下一代硅漂移探测器(SDD)。将最大尺寸的传感器与极限电子产品相结合,提供无与伦比的速度和灵敏度。
Ultim Max的大型SDD传感器允许在同一时间内收集多达17倍的数据而不损失精度。无论您是想绘制更大的区域,对每个数据点进行更好的统计,更快地收集数据,还是研究最小的纳米结构,Ultim Max都是SEM中x射线分析的最终解决方案。
极限电子与X4脉冲处理器的结合,使UltimMax能够以1,500,000 cps的计数率绘制样品,并准确量化400,000 cps的成分。
极端电子产品的噪音很低。这允许精确识别和表征低至72eV的x射线线。
最大的传感器,保证低能量分辨率意味着Ultim Max是低千伏分析的理想选择,最大限度地提高了纳米级的分析能力
Ultim Max大型传感器和高通量性能首次在电子显微镜中实现活体化学成像。
Ultim Max的大型SDD传感器允许在同一时间内收集多达17倍的数据而不损失精度。无论您是想绘制更大的区域,对每个数据点进行更好的统计,更快地收集数据,还是研究最小的纳米结构,Ultim Max都是SEM中x射线分析的最终解决方案。
下一代SDD - Ultim Max结合了最大的SDD传感器,独特的极限电子。
X-Max Extreme与GeminiSEM 500的结合为研究小于10nm的纳米结构的形态和化学提供了独特方便和强大的成像和分析工具。以铈铁纳米粒子和GaInAs量子点为例,这种能力在实践中得到了证明。