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扩张
探针
纳米操纵

用于FIB和SEM的OmniProbe纳米操纵器自1995年以来一直处于行业领先地位。多种型号可用于各种预算和应用。万博电脑网页版登录

从开环到闭环反馈,从伺服电机到压电技术,价格合理的选择使每个实验室都有可能实现原位纳米操纵的好处。所有产品均由Omniprobe在TEM薄片制备解决方案和其他操作任务方面的专家应用知识支持。万博电脑网页版登录

OmniProbe纳米操纵器以其高效性、易于实施和使用而闻名,通过它,您可以:

  • 中和在无涂层绝缘样本高度充电区
  • 测量纳米结构的电参数(EBIC,EBAC,电探测)
  • 执行对平面图和背面铣FIB顶出解决方案
  • 在SEM中制作相关的TEM和原子探针纳米线样品
  • 创建用于改进TEM、EDS和其他类型分析的高质量样品
  • 执行对冷冻样本顶出

所述OmniProbe是通过PC接口驱动的端口安装的解决方案。它总是在那里,当你需要它 - 进出的方式,当你不知道。它需要的全部功能显微镜优点,包括全阶段倾斜和使用的其他安装配件。Omniprobe nanomanipulators用一种独特的方式来帮助对象,其结果更容易操作和更高的成功率的三维操作。

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OmniProbe 400

这本小册子进入功能和我们的旗舰纳米操纵的OmniProbe 400的优点

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EBIC和EBAC分析

E3定量纳米探针显微分析系统能够在SEM和FIB中对器件和材料进行电特性描述(EBIC、EBAC和电探针)。这本8页的小册子概述了E3产品。

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高质量TEM薄片制备及尖端分析

在这里,我们提出了一种新技术,使TEM薄片的局部厚度和组合物的测量和讨论其对半导体器件的不良分析中的应用。

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Nanomanipulators

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