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C-Swift

C-Swift是我们CMOS探测器家族的最新成员,用于常规材料分析和高通量样品表征。
C-Swift受益于许多已开发的功能对称S2这样一个开创性的EBSD探测器,当然包括为EBSD设计的定制CMOS传感器。

  • 保证索引速度1000pps

  • 622 x 512像素EBSPs, 250 pps

  • 为低能量和低电流分析提供极高灵敏度的光纤

  • 失真免费图片


要求定价添加到报价表中

C-Swift是同类领先的高通量EBSD检测器。与对称S2探测器, C-Swift使用定制的CMOS传感器与光纤耦合,以提供速度和灵敏度,确保即使在最具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift的最大速度为1000pps,具有良好的模式分辨率(156 x 128像素),这是在类似速度下运行的可比的基于ccd的检测器所使用的像素数的4倍,确保了可靠的索引和所有类型的样品的高命中率。无畸变光学与AZtec软件中强大的分度算法合作,使C-Swift能够提供0.05°以下的卓越角度精度。对于需要万博电脑网页版登录更高质量的图形的应用,C-Swift可以以高达250 pps的速度收集622 x 512像素的图形,使其成为复杂多相样品和详细相分析的理想工具。

这是一个检测器,已被设计为快速,有效的样品特征。该系统的每个组件,从独特的接近传感器到可选的集成林业探测器,都被设计为性能最大化和易用性,并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

C-Swift探测器设定了一个新的标准,速度是关键:

  • 保证分度速度1000 pps只使用12 nA束电流
  • 光纤和优化的荧光屏提供了卓越的灵敏度,确保在低剂量和低光束能量下获得高质量的图案,从而获得最大的空间分辨率
  • 156 x 128像素模式分辨率在最高速度- 4倍于快速CCD探测器在可比速度
  • 全分辨率(622 x 512)模式-理想的详细相位和变形分析
  • 低失真光学,角度精度优于0.05°。
  • 高灵敏度和优化的荧光屏,确保在低剂量和低光束能量下的高质量图案,从而获得最大的空间分辨率
  • 无缝EDS集成,即使在最高的速度
  • 波纹管式SEM界面,保持显微镜的真空完整性
  • 独特的接近传感器-检测潜在的碰撞发生前,并自动移动探测器到一个安全的位置
  • 简单和直观的检测器设置,确保每次最佳结果
  • 五个综合的森林探测器,提供全彩互补通道对比度和原子数对比度图像。

下载中心

CMOS-EBSD探测器范围

发现市场领先的基于CMOS技术的EBSD探测器:世界首创的创新技术。

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对称S2

Symmetry是世界上第一个基于CMOS传感器技术的EBSD检测器,它将彻底改变EBSD分析。

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AZtecHKL

这本16页的小册子说明了为什么AZtec是市场上领先的EBSD分析平台。涵盖硬件和软件。

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EBSD解释

EBSD Explained是一个24页的教程,不仅给新人一个坚实的基础,在学科的基础科学,但也展示了如何将理论应用于实践,以获得可靠和准确的EBSD结果。

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