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什么是EDS/EDX?

能量色散x射线光谱法(EDXS)是在扫描或透射电子显微镜(SEM/TEM)中测定材料元素组成和成分的常规技术。EDXS几乎总是缩写,这种技术通常被称为能量色散光谱(EDS)。

能量色散x射线(EDX分析与用电子显微镜进行成分分析的方法相同。术语EDXA,有时甚至EDAX也用于以这种方式引用该方法。

EDS和EDX的区别是什么?

术语EDS和EDX都被用来(通常可以互换)谈论相同的方法或相同的设备。在一些人看来,它们实际上的意思有微妙的不同:EDX指的是方法,EDX分析;EDS是能量色散光谱仪。

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电子显微镜和分析设备

电子束与eds样品之间相互作用的图表

当样品在真空中用电子束照射时,电子束与样品之间的相互作用产生电子、x射线和光。

从这些信号,可以确定微观结构,组成和晶体结构。对于每一个信号的检测和分析,电子显微镜都需要配备专门的分析设备。

电子束与样品相互作用的图像

扫描电镜分析设备类型:

什么是EDS/EDX分析?

eds特征x射线的生成

EDS/EDX(能量色散x射线光谱仪)是一种基于电子照射产生的x射线信息进行元素和成分分析的技术。当一个入射电子在组成原子的内壳层的电子轨道上产生一个空位时,具有较高电子能级的电子从外层转移来稳定它。

在这个过程中发射的x射线被称为特征x射线,每个元素都有特定的能量值。根据所获得的特征x射线的能量,元素(498Cf)在样品中可以在几秒钟内识别(定性分析)。特征x射线的强度还可用于测量每种元素的含量(定量分析)和分析视场内的偏析(x射线映射)。最新的系统还提供足够快的元素分布的动态成像,以实现实时交互式显微镜(实时化学成像);对于EDS,当样品移动时,在原位实验(活体化学成像)中改变显微镜设置或修改样品。

显示特征x射线生成的图像
EDS谱例

硅漂移探测器(SDD)不需要液氮冷却,现在是最常见的探测器类型,由于其易于维护和分析时间短而被广泛使用。x射线的空间分辨率取决于样品内反射电子的散射,通常被认为是1000s nm到几μm,但近年来,通过使用薄膜处理或无窗SDD结合非常低的加速电压(高达2 kV),已经进行了10nm水平的分析。无窗SDD也可用于检测锂(3.Li),因此被用于锂离子电池的开发。

图为EDS/EDX光谱图

了解如何从EDS获得更多信息…

狗万正网地址牛津仪器EDS/EDX特性

  • 具有业内最大的sdd之一的快速分析
  • 采用独特的truu - q光谱分析技术进行定性和定量分析
  • 最新技术使活体化学成像成为可能
牛津仪器EDS探测器,包括Ultim Extreme, Symmetry, Ultim Max和波动光谱仪

我们的EDS产品系列…