Ultim Max TEM
Ultim Max是下一代硅漂移探测器(SDD),利用我们的Extreme电子器件产生最大的灵敏度,增加吞吐量。这为AZtecTEM提供动力,AZtecTEM是市场领先的软件,在TEM中提供无与伦比的元素表征性能。
极端的电子设备允许高吞吐量。这使得它即使在高温和强烈的红外辐射背景下也能继续计数x射线。
极端电子产品的噪音很低。这允许精确识别和表征低至72eV的x射线线。
使用EDS直接测量样品的厚度。所有这些都来自一个简单的标准测量。
视频速率电子和化学成像实现实时观测和测绘原位第一次发生了化学反应。
Ultim Max TLE,我们的旗舰SDD TEM探测器。该探测器经过优化,以提供原子尺度上的元素特征,以最小的探针尺寸提供最大的计数率。
这种性能是通过使用优化的形状,100毫米来实现的2传感器,无窗结构,优化的机械设计和极端的电子。
Ultim Max TEM,我们的SDD探测器用于TEM中的纳米级分析和元素映射。
采用新型低轮廓80毫米2传感器更接近标本,在任何情况下都能提供更多的x射线计数。结合无窗结构和极端电子设备,该探测器可为200kV tem提供高性能EDS。
Xplore TEM,我们的SDD探测器专门设计用于120kV和200kV TEM的常规应用。万博电脑网页版登录
使用新的80毫米2传感器和聚合物薄窗和极端电子,该探测器提供快速和准确的元素特征。
Ultim Max TLE为生物样品分析进行了优化,通过在最小的探针尺寸下最大限度地提高低能x射线的计数率,从而实现对光束敏感样品的快速、准确的数据收集。
Ultim Max TLE探测器用于生命科学应用演示:万博电脑网页版登录
图像:未染色的植物叶细胞,用醛固定,用LR白包埋,切片厚度100nm,仅用元素图显示细胞核、液泡、液泡体和细胞膜,图像中不含电子数据。钙在细胞膜和细胞核中有独特的分布。
拟南芥(Arabidopsis thaliana)叶片样品,染色(左)和未染色,埋在LR白树脂中,切片厚度为100nm。数据采集于100nm厚树脂埋片中,使用200kV (S)TEM和Ultim Max TLE。EDS在未染色的细胞和组织中产生对比,有助于细胞成分的识别,并避免需要可能掩盖或扭曲正常结构和元素图的染色。在染色细胞和未染色样品的磷图中可以看到叶绿体(C)中的类囊体膜(橙色箭头)。
透射电镜数据收集于伦敦国王学院超微结构成像中心
实时化学制图
在0 - 800°C加热的SiN膜上的10 nm Au膜显示颗粒团聚。(序列加快20倍)
FIB片显示Al2在0 - 450℃加热时,Cu析出和退火。(序列加快20倍)
即使在高温下
立体角和起飞角的增加,加上无窗探测和极端电子器件,使得x射线灵敏度无可妥协。这意味着Ultim Max现在可以探测到比以前更低的x射线能量。极限电子与X4脉冲处理器的组合也允许原位高温> 800°C下的EDS绘图和定量。
计算样品厚度
我们易于使用的定量程序允许质量厚度量化。这允许您单独使用EDS来测量纳米颗粒的原子精度。使用这种方法,现在可以计算样品的厚度,并进一步了解图像中的对比度。
Ultim Max是下一代硅漂移探测器(SDD),利用我们的Extreme电子器件产生最大的灵敏度,增加吞吐量。这为AZtecTEM提供动力,AZtecTEM是市场领先的软件,在TEM中提供无与伦比的元素表征性能。
EDS是一种成熟的技术,可用于大多数标本。EELS更适合于厚度小于材料中非弹性平均自由程的薄样品。同时采集两种信号是材料分析的有力工具。
半导体的元素分析通常很困难,因为常用元素和低浓度掺杂剂之间的x射线线有很强的重叠。本简介展示了AZtecTEM如何解决这些重叠,以实现准确的元素分析。
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