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Aztecwave.

Aztecwave将WDS的独特力量结合在一起解决X射线峰值和量化次要和跟踪元素具有eds的速度和灵活性。eds和WDS波谱仪操作完全集成到AZTEC软件中，保证对具有各级专业知识和TRU-Q的用户最大可访问性®处理技术最准确的结果。当微基分析处于最具挑战性时，AztecWave快速提供准确的答案。

  • 提高元素识别和组成的清晰度

  • 检测和测量水平的微量元素降至数十ppm

  • 准确的组合物在所有浓度水平上确定所有元素

  • 完全集成的工作流程旨在优化Aztec平台中的组合EDS和WDS获取

  • 来自EDS和SEM的实时输入优化WDS设置保证出色的结果


要求定价添加报价列表

Aztecwave.

新的准确性和敏感性

  • 增强元素识别和组成的清晰度，其中元素峰在EDS光谱中没有明确解决
  • 检测和测量痕量元素的水平降至数十ppm
  • 确定所有浓度水平的所有元素的准确组成
  • 使用WDS使用EDS和大量重叠或跟踪元素来测量主要元素
  • 解决冶金，电子，矿物学/地质，陶瓷，取证和核发电中的特征挑战

所有用户都可以访问

  • 完全集成的工作流程旨在优化Aztec平台中的组合EDS和WDS获取
  • 新技术采用EDS和SEM的实时输入来优化WDS设置，并在采集开始之前向用户提供反馈 - 保证最优异的集合时间，以及所有级别的用户专业知识
  • 独特的三通控制，以优化光束电流，计数时间和精度在定量分析之前
  • 在开始采集之前，通过所选设置评估和评估潜在的WDS扫描质量
  • 灵活，手动控制为经验丰富的用户
  • 内置技术使用EDS和SEM系统信息来告知自动选择：

用于定量组合EDS-WDS分析：

  • 计数时间
  • 线系列和X射线线
  • 衍射水晶
  • 背景位置
  • EDS采集参数
  • eds探测器位置
优化_wds_collection_settings.

对于定性WDS谱扫描：

  • 水晶
  • 裂缝尺寸
  • 缝隙位置
  • 停留时间
scan_setup.

准确的所有元素

TIV扫描1000居住0.2狭缝尺寸

波WDS光谱仪允许AZTECWAVE在SEM上提供真正的电子微探针性能

  • 针对所有能量进行了优化，这意味着最佳的X射线线始终可供分析
  • 所有常见的重叠元素线分开，包括过渡金属K线
  • 最低检测限度，较短的收集时间，具有较低光束电流

与Azteclive EDS软件和技术无缝集成

  • TRU-Q技术在EDS计数率高达400,000cps的情况下提供电子微探针级定量精度
Quant结果
由AZTECWAVE中的EDS和WDS的组合测定的不锈钢组成。
CO FE重叠4000 DWELL 2 BIN比较
WDS扫描COKα峰存在于70.1wt％Co.的超合金中

设置光谱仪

步骤工作流程，以指导您通过波浪谱仪设置和性能检查

  • 专为缺乏经验的用户而设计
  • 确保安全操作
  • 提供快速系统设置
  • 保证最佳性能

在必要时生成性能测试报告（例如，用于认可的设施）

PBS_SCAN.

定性频谱扫描

一种使用波谱仪直接设置和获取WDS谱扫描的步骤序列

  • 可以通过使用滑动工具来输入扫描范围，或选择候选元素线
  • 基于所选择的能量范围，使用内置技术，晶体，狭缝尺寸和狭缝位置自动优化
  • 在采集之前显示了理论扫描，在按下开始之前才能进行评估和调整设置
  • 停留时间可以在0.005和50秒之间设置，允许专业到扫描中识别的微量元素
  • 可以审查和比较WDS扫描和EDS光谱

定量分析

组合EDS和WDS采集和定量分析的专用工作流程

  • 使用EDS进行样本分析位置，并自动优化所有EDS和WDS集合参数
  • '采集时间线'估计获取设置期间的WDS采集时间，并在采集期间显示波浪谱仪的状态
  • 高级选项包括将额外的WDS获取或现有的EDS频谱添加到分析中
  • 专用的“计算组合”步骤来查看和检查单一或多次采集的定量结果
  • 合成的WDS谱将EDS光谱数据转换为高分辨率，高峰，以检查与背景空间的背景空间，以及用于X射线线和背景的采集能量
收购时间表

标准化

使用标准材料进行最佳地校准系统，以确保系统进行最佳的工作流程，以便精确构成确定

  • Optimised acquisition conditions calculated automatically
  • 狗万正网地址牛津仪器42和56元件标准块组成和地图是预装载的，以便于导航和快速设置
  • 光束电流测量与EDS计数计算计算未归一化组合EDS-WDS结果的计数
Aztecwave.
设置光谱仪 ✔
定性频谱扫描 ✔
定量分析 ✔
图像配准和导航 ✔
标准化 ✔
比较WDS扫描和EDS光谱 ✔
引导示例交换和光谱仪关闭 ✔
WDSspectrum simulation ✔
WDS获取时间表 ✔
EDS通知自动采集设置 ✔
3梁电流/采集时间/精度的方法控制 ✔
WDS X射线映射 印加能+（可选）

WDS的详细应用万博电脑网页版登录

波长色散光谱（WDS）为需要来自固体样品的定量成分结果的应用，特别是在需要精确确定次要和微量元素的浓度。万博电脑网页版登录应用示例存在于各种各样的部门，包括冶金，地质，电子，半导体，质量和能量产生和储存。将WDS与EDS分析相结合，通过AZTECWAVE，为SEM中的无损性分析提供了多功能系统。

发现详细的应用程序示例万博电脑网页版登录
博客：为您的元素识别提供确定性
博客：为什么在使用WDS分析时非常重要的光谱分辨率？
博客：WDS如何帮助确保电子产品中的焊接质量
博客：当我挑战Aztecwave来重现我的电子微探针结果时发生了什么
博客：过去25年或更长时间，我做错了什么？一种做WDS分析的新方法
飞行器：Aztecwave.
Infosheet：WDS解释说明
技术数据表：AZTEC标准
技术数据表：MAX +
网络研讨会：AZTECWAVE - 将WDS检测和EDS速度与AZTEC可访问性结合起来解决SEM中的实际分析挑战

视频

使用WDS扫描在AZTECWAVE中解析重叠并识别跟踪元素

WDS扫描是AZTECWAVE中的新工作流，其能够肯定受峰值影响的峰值影响的元素，和/或以痕量浓度（小于0.1wt％）。

将呈现几种不同的样品类型作为电子产品中使用的矿物质，金属和焊料。此外，教程将包括如何的示范;（1）使用可用的不同设置工具获取WDS扫描，（2）识别存在的元素行，（3）比较多个WDS扫描和EDS光谱。

aztecwave - 扩展SEM的能力

了解AztecWave如何是完美的解决方案，可以准确，快速检测所有元素，以解决SEM中的具有挑战性的问题。了解AztecWave如何帮助您实现高质量的结果。

AZTECWAVE - WDS扫描

发现AZTECWAVE WDS扫描的最新功能，这为唯一具有真正的电子 - 微探针分辨率和SEM的性能的唯一WDS光谱仪。请参阅如何从SEM-EDS获取数据到新的确定性 - 通过显示所有峰值重叠完全解决和准确地测量所有元素，包括在次要或跟踪级别存在的峰值。

使用WDS和AZTECWAVE解析X射线线重叠

EDS和WDS都是使用X射线的技术，当电子束与材料相互作用时产生的技术，以确定元素组成。由于ADS可以同时收集所有X射线能量，而ADS一次收集一个X射线能量（即元素线），EDS更快，因此更常用于基于SEM的组成分析。但是，WDS确实带来了对EDS的一些显着优势。

对波长分散光谱（WDS）和AztecWave的实际介绍

本教程将实用介绍to WDS and AZtecWave - our new software for combined SEM-based EDS-WDS analysis.

AZTECWAVE：WDS检测和EDS速度，具有AZTEC精度​​和可访问性

AztecWave加速了您的时间的时间，帮助您在更短的时间内实现更多，具有无与伦比的准确性和确定性。在本教程中，了解AztecWave如何以准确性和可访问性提供WDS检测和EDS速度。

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