聚合物涂层的失效分析。纳米分析。牛津仪器狗万正网地址 - 万博手机版max客户端,万博手机登录网,万博电脑网页版登录

聚合物

高分子涂料失效分析

聚合物涂层通常含有的元素，其存在和分布可以通过SEM-EDS直接快速地表征。

样品通常是通过冷冻裂解聚合物来制备的，以形成用于分析的横截面。

在涂层缺陷导致产品质量问题并可能停产的情况下，快速识别原因至关重要。在这里，新的元素分布的实时成像可能起着至关重要的作用。

使用SEM-EDS辅助聚合物涂层失效路线原因分析的一个例子是对聚合物袋热焊接缺陷的研究，该缺陷导致客户拒收

使用SEM-EDS分析，将缺陷焊缝的截面与成功焊缝的控制样品进行简单的比较，可以直接显示材料和缺陷的结构。

结果清楚地显示了造成热焊失败的漆层缺陷。对缺陷的清晰识别可以确定失败的原因。

最近，AZtecLive的出现彻底改变了这一过程，AZtecLive是SEM- eds的一种新的突破性技术，可以在SEM中对样品中的元素进行实时成像。使用AZtecLive，首次可以与样品形态相结合，交互式地检测样品的化学成分。例如，现在可以直接研究和识别热焊缝中的缺陷，而不需要聚合物的横截面，如本视频所示。

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