用含氟的异吡嗪和含氯的环康唑两种杀菌剂的混合物处理小麦叶片。杀菌剂在叶片表面的分布可以通过x射线元素映射来测量，揭示每种杀菌剂相关元素的位置。为了能够直接研究杀菌剂在叶片表面的分布，在分析过程中需要保存和保持叶片的结构。将处理过的叶片样品置于液氮中冷冻，不仅可以将杀菌剂原地冻结，而且可以稳定叶片的结构，以便在扫描电子显微镜的真空下进行分析。

从冷冻叶片中收集x射线元素图，用于处理后表面的直接分析。由于用于处理叶片的每种杀菌剂都富含一种特定元素，即异吡嗪(富f)或环康唑(富cl)，氟和氯的绘图显示了杀菌剂在处理过的叶片表面的位置。

尽管样品被冷冻在真空中保持稳定，但当使用高能电子束扫描表面并产生x射线信号时，它们仍然可能被引入的热量破坏。使用能量较低的电子束，可以减少扫描电子束对样品造成的潜在损伤。然而，这将降低由样品产生的x射线信号的强度，该信号用于提供x射线元素图。大面积Ultim Max硅漂移ED x射线探测器是在低x射线计数率预期发生的条件下分析样品的理想选择。

在本例中，为了限制对样品的损伤，使用了6kv的低束流加速电压。使用这种条件所产生的后续较低的x射线计数率很容易通过使用大面积探测器来抵消。结果，仅用3分钟的分析时间就得到了显示杀菌剂在叶片表面分布的有用结果。