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Ferner erläutern wir创新Bildgebungs- und Analysetechniken, die zur Prüfung der Eigenschaften von Halbleiterbauelementen dienen。

Schließlich behandeln wir Techniken zur Identifizierung von bauteildefkten und zur fehleranalyze。

Sie lernen werden:

✅Wie man等离子体技术，zur Herstellung von Bauelementen einsetzt
✅我们的人是赫斯特隆·冯·哈尔伯莱特·鲍埃尔蒙特·德赫斯特隆·冯·哈尔伯莱特·鲍埃尔蒙特·德Ätz
✅weiman Rafterkraftmikroskopie (AFM)和能量分散Röntgenspektroskopie (EDS) zur Prozesskontrolle和Fehleranalyse einsetzt
✅Wie Halbleiterbauelemente im Nanobereich aufgebaut und analysiert werden

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