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检验与过程控制

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对破坏你们工艺的颗粒和杂质的识别、特征和分类

硬盘的硬颗粒分析

硬盘驱动器中磁盘故障和读头崩溃的最大原因之一是外来和污染物颗粒的存在。了解这些颗粒的来源是确保产品和工艺可靠性的关键。使用硬颗粒(HPA)分析模块为我们的aztecfeature.软件平台,你可以识别特征和分类任何污染物颗粒。通过定制的分类方案,不仅可以了解颗粒的形状、大小和化学成分,还可以了解其生产过程中的来源,不仅可以确保最终产品的质量,还可以确保提供给产品的零部件的质量。

X射线成像是一种关键的能力技术,可实现诸如印刷电路板和电池等许多消费产品组件的快速可靠检查。我们的X射线源和电源在全球的全天候在线系统中找到,并帮助将移动连接带到指尖。

用于半导体和微电子研究的原子力显微镜 AFM用于纳米级电学特性的工具 过程控制和颗粒分析 过程控制和粒子分析

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