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层状聚合物结构成像与失效分析

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利用扫描电子显微镜下的能谱仪对聚合物材料上的多层聚合物和涂层进行了研究,并分析了涂层失效的情况。在这个例子中,涂层通过EDS制图和“指纹”光谱来显示不同层之间的化学差异。当对比控制和缺陷膜的结果时,SE图像显示缺陷膜的顶部(明亮)层大大减少。EDS揭示了发生的细节。PET层被还原,正如氧气较薄的区域所示。通过比较Si和Cl控制中可见的层数和缺陷膜中不存在的层数,可以看出保护清漆层缺失。

层状聚合物结构成像及失效分析
聚合物科学的原子力显微镜 用于纳米力学测量的原子力显微镜 聚合物涂层失效分析 聚合物涂层失效分析

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