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X射线和中子断层扫描成像和分析的工具

X射线和中子成像应用(例如材料科学与工业检查)依赖于万博电脑网页版登录以最高精度和准确性捕获X射线和中子图像的能力。

Andor的SCMO,CCD,ICCD和EMCCD的广泛相机组合提供了各种动态解决方案,以应对层析成像,Ptychography和Imaging应用中的挑战万博电脑网页版登录原位前场。Andor为软X射线和中子成像应用提供了一组相机组合,包括直接检测CCDS和SCMOS(X射线)以及间接纤维和镜头耦合摄像机(X射线和中子)。万博电脑网页版登录

成像与分析技术

X射线和中子成像

X射线和中子成像或X射线照相是一种成像技术,其中X射线或中子用于探测材料的内部组成和结构。X射线和中子被样品吸收,具体取决于密度和元素质量。在X射线的情况下,X射线通过材料的衰减与材料密度有关,而通过材料的中子的衰减与材料中存在的元素有关,因为中子仅与原子核相互作用。由于材料相互作用的差异,通常将X射线和中子成像技术结合使用,以提供对材料结构的无损洞察力。射线照相万博电脑网页版登录的关键应用包括检查材料(例如钢,陶瓷和合金),生物样品(例如细胞,植物),法医和地质样品(例如岩石样品和陨石)。

X射线图像可以通过直接吸收X射线吸收到2D硅的相机传感器上,以<20 keV,或者在较高的能量(例如> 20 keV)下使用与CCD或SCMOS检测器耦合的闪烁镜镜头。通常,使用闪烁电台(通常由锂基材料(例如LIF(Zns)或塑料制成),具有CCD或SCMOS检测器在90度的偏移量,用镜子偏移,以保护传感器设备免受破坏性中子束的保护。

Andor提供了一系列全面的摄像机,非常适合直接X射线成像和内向X射线和中子成像应用。万博电脑网页版登录要了解更多信息这里

X射线计算机断层扫描

X射线计算机断层扫描或X射线CT是一种非破坏性技术,用于研究材料的内部结构和组成,使用发生的吸收或相对比变化,然后X射线通过材料。X射线CT通过获取一系列旋转3D样品的单个2D图像来起作用,然后将其组合起来以渲染样品的3D图像。通过样品对X射线的吸收/衰减会导致对比度的变化,这取决于样品中不同组分的密度及其个体吸收或相移X射线。X射线CT在材料(例如金属,眼镜,陶瓷),艺术(例如滚动,绘画,雕像),储能设备(例如电池)和生物系统(例如,在水窗中的单元格中的滚动,绘画,雕像)中广泛使用X射线CT。X射线光谱或植物结构)。

Andor提供了全面的慢速扫描CCD摄像机直接软X射线/EUV层析成像和间接硬X射线断层扫描应用程序和快速SCMOS摄像机,用于直接软X射线/EUV/EUV层摄影和间接硬X射线层摄影术。万博电脑网页版登录要了解更多信息这里

中子断层扫描

中子断层扫描是一种无损的技术,可用于研究金属物体,腐蚀过程,复杂的考古文物或地质样本内部结构中的氢气动力学或流体分布(例如水)。它也可以用于工程系统的质量控制(例如燃烧发动机,锂离子电池,燃料电池),以区分同一元素的同位素或研究生物材料中的水运输(例如植物)。

通常,通常使用闪烁体(通常由锂基材料(例如LIF(Zns)或塑料)制成),将镜头 - 耦合到CCD或SCMOS检测器。Andor提供了一系列综合面积的慢速扫描高灵敏度CCD摄像机的想法,可用于弱信号长期曝光,以及大面积,低噪声高框架速率SCMOS摄像机非常适合快速层析成像应用。万博电脑网页版登录要了解更多信息这里

X射线成像与层析成像(原位)

原位X射线和中子成像和断层扫描可用于研究材料科学,生物学和物理学中的广泛瞬时现象。

原位成像和层析成像在数据获取时间和科学摄像机的帧速率要求方面可能需要。快速瞬态现象成像需要高框架速率,并且在与断层扫描结合使用时,甚至需要高框架速率。此外,要快速获取图像,需要一个具有低噪声读数的高灵敏度摄像头,以达到每个单独框架所需的信号到噪声水平,并最大程度地减少总获取时间。高度敏感,低噪音和快速摄像机至关重要,可充分利用高通量和低通量原位环境。

Andor为直接软X射线/EUV提供了全面的慢速扫描CCD摄像机原位万博电脑网页版登录应用和间接硬X射线原位万博电脑网页版登录申请。此外,Andor为直接软X射线/EUV提供了市场领先的SCMOS摄像机市场领先原位万博电脑网页版登录应用和间接硬X射线原位万博电脑网页版登录申请。要了解更多,请参阅这里

X射线Ptychography

PtyChography是一种从从每个点(区域)获得的衍射图中重建标本的晶体结构(图像)的方法,该方法是使用收敛探针在标本上扫描的,以使一部分照明区域重叠。“ ptycho”的意思是希腊语中的“折叠”。

X射线ptychography已被证明是相干衍射成像(CDI)最强大的扫描方法,并且具有成为无镜头技术的优势,因此避免了与产生X射线透镜光学相关的困难。一旦通过样品扫描X射线获得了ptychography模式,迭代反馈算法就会使用样品的图像重建。X射线ptychography提供了高时空分辨率,用于探测2D和3D的动态现象。

X射线ptychography越来越普遍用于材料科学(即金属,合金,复合材料,陶瓷和2D材料的研究),半导体制造和质量检查,医学,地质,考古和工程。

Andor具有一系列出色的深度耗竭直接检测CCD摄像机非常适合软X射线/EUV Ptychography <20 KeV,最近带来了一系列尖端直接检测SCMOS摄像机,用于直接EUV和软X射线Ptychography应用。万博电脑网页版登录要了解更多,请参阅这里

从最好的

Andor提供了全面的开放前面直接X射线检测摄像头(SO)的投资组合,以及高吞吐光纤维和镜头耦合间接检测解决方案,以满足所有需求。

直接软X射线/EUV检测解决方案

Andor将最新的直接检测传感器技术纳入其广泛的产品组合中。

我们提供尖端直接检测SCMOS摄像机,能够直接检测X射线/EUV光子是市场领先的框架速率(以4.2百万像素分辨率为74 fps!)。直接检测SCMOS非常适合在<5 keV能量范围内的快速成像,层析成像,pychography,光刻和光谱应用应用。万博电脑网页版登录要查看我们的直接检测范围SCMOS摄像机,请参阅这里

对于长期暴露,10 eV - 20 keV Energies和大型应用程序Andor还提供了一系列全面的超敏感开万博电脑网页版登录放式前式直接检测CCD摄像机,深冷却至-100°C,可实现相对较长的摄像机在大型视野上的曝光(最多可达)61 x 61毫米!)。Andor的直接检测范围CCD摄像机非常适合诸如谐振非弹性X射线散射(RIX),成像,层析成像,PtyChography万博电脑网页版登录等应用,可查看我们的全部直接检测范围CCD摄像机这里

内向硬X射线纤维耦合溶液

用于硬X射线(> 15 KEV)和中子应用,例如成像,层析成像和万博电脑网页版登录原位研究至关重要的是要充分利用每个事件的光子或中子中的设置。纤维耦合摄像机为X射线和中子成像应用提供了紧凑的,多功能的高吞吐量解决方案。万博电脑网页版登录

纤维耦合摄像机可以配备适合应用程序和能量范围的各种闪光灯。闪烁器的光线有效地将纤维夫妇从相机传感器中传播到相机传感器中,以提供高分辨率,高效率的图像。光纤摄像机可以通过成像系统实现最大吞吐量,进而使最终用户能够充分利用其高速摄像头,以最大的帧速率运行,或者充分利用每一个事件的X射线光子在Flux Limited中系统。

Andor提供了两个用于成像的光纤耦合摄像机解决方案:

  • Zyla-HF SCMO能够在5.5百万像素的5.5兆像素中实现100 fps,非常适合具有高通量的快速断层造影成像应用。万博电脑网页版登录Zyla-HF即使在最大帧速率下,也可以保持低噪声高动态范围读数!
  • IKON-L-HF CCD可用的深冷却至-35 c c,其大面积27.6 x 27.6毫米传感器非常适合大面积,低通量或单射击成像环境。

内向硬X射线镜头耦合溶液

用于硬X射线(> 15 KEV)和中子应用,例如成像,层析成像和万博电脑网页版登录原位研究镜头耦合相机为X射线和中子成像提供了有效的多功能解决方案。

镜头耦合为X射线和中子成像提供了几个优点:

  • 镜头耦合提供了相对于硬X射线和中子检测的纤维耦合溶液的最高分辨率成像。
  • 可以在高X射线上使用镜头耦合,并使用各种闪烁体的中子能量来优化系统的分辨率和吞吐量,以进行特定的实验设置。
  • 镜头耦合解决方案提供多功能设置,根据设置和应用程序,可以轻松互换相机。在高X射线或中子通量的情况下,可以使用快速低噪声SCMOS摄像机或在慢速扫描中,低通量的情况深冷却慢扫描CCD摄像机可用于充分利用所有事件的X射线和中子。

Andor提供了广泛的相机组合,可用于各种各样的中子和X射线镜头耦合实验设置,包括大面积,低噪声,快速SCMOS摄像机,用于快速技术原位成像了解更多这里。此外,Andor的CCD摄像机的全面范围提供了深冷的,低噪声和高动态范围性能,非常适合低通量成像和层析成像应用万博电脑网页版登录这里

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