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金属,合金,复合材料和陶瓷科学的模块化光谱解决方案

分子和原子光学光谱提供了高度特异性,非侵入性的工具,用于确定与特定性质相关的广泛工程材料的化学/元素,结构和/或光学性质。

Andor的模块化光谱仪,高灵敏度CCD, EMCCD, ICCD, InGaAs, sCMOS探测器使研究人员能够解决从纳米到宏观尺度的分析挑战,具有高度的准确性和可重复性,使用主要涉及拉曼,激光诱导击穿光谱(LIBS),发光-荧光或吸收-透射-反射光谱的探测技术。

Andor附加报价先进材料科学的光谱解决方案(inc.半导体量子源)。

光谱解决方案适合您的需求

Andor光谱学探测器提供从紫外到SWIR区域的最高灵敏度,确保与化学特征、结构变化或光子学性质相关的信息可以以最高的精度和最高的可重复性获得。我们高度可配置的光谱仪为多模态设置和广泛的光子体系和实验(如微光谱)提供了理想的平台。

高灵敏度和动态范围

  • 高灵敏度UV-SWIR
  • 大像素井深
  • 高分辨率矩阵
要求定价

Ns到µs
时间分辨率

  • 纳秒选通
  • 对单光子的高灵敏度
  • 头部DDG与ps精度
要求定价

µs到ms
时间分辨率

  • 多千赫频谱率
  • 对单光子的高灵敏度
  • 高分辨率矩阵
要求定价

摄谱仪系统及配件

  • 高模块化,高分辨率,高吞吐量
  • 大同步带通,高分辨率Mechelle
要求定价

关键光谱学技术

填词

激光诱导击穿光谱(LIBS)通过分析脉冲激光对目标微烧蚀产生的等离子体发射,提供样品的元素/化学成分信息。它可用于金属分级,测量不同工程材料中元素的浓度或比例,以及识别材料基质中的杂质或捕获物种,例如聚变反应堆/托卡马克等离子体面壁中的吸附物种。

中阶梯光栅光谱仪与快速门控iccd相结合,特别适合于LIBS分析,因为它们同时提供高光谱分辨率和高达数百纳米的非常大的光谱带通。

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拉曼

这种非侵入性激光散射光谱技术提供了关于样品的分子信息(成分,结构)。它可用于评估由于各种外部因素(如温度变化/冲击、机械应力)引起的材料基体破坏的影响,或用于识别和了解杂质、吸附分子或缺陷对材料力学特性的影响。

对于含有有机物种的材料,拉曼信号与来自样品的荧光相竞争——近红外激光或紫外激光(波长超出分子的吸收范围)可用于极大地减少或抑制不必要的荧光贡献。

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