缺陷像素的分类、识别与滤波
Andor的Neo和Zyla相机配备了相当大的FPGA处理能力,用于从图像传感器中过滤小比例的缺陷。该过滤器识别和补偿三种类型的缺陷,在FPGA处理步骤中进行了纠正:
在摄像机的FPGA中,采用插值滤波器对上述缺陷类型进行实时处理。这个过滤器的工作原理是计算周围8个像素值的平均值,并用这个平均值替换中心缺陷像素。
然而,在某些依赖于有限像素集的总定量完整性的特定应用中,这种对像素缺陷的插值可能被认为是有害的,例如基于本地化的超分辨率显微镜(如PALM和STORM技术)和天文学。万博电脑网页版登录在这些应用中,用户万博电脑网页版登录能够关闭插值修正是有益的,这是Andor已经实现的。在本技术说明中,对Andor Solis采集软件和Andor SDK3的校正开关开关说明进行了描述。
打开/关闭瑕疵修正
从Andor SDK3(最低版本3.7.30004)和Solis(最低版本4.24.30004)的最新通用版本开始,用户可以打开或关闭这个缺陷修正。
SDK3
在SDK3中,布尔特性被命名为StaticBlemishCorrection。SDK3特性控制的细节可以在Andor SDK3手册中找到。
功能 | 类型 | 描述 | 可用性 |
StaticBlemishCorrection | 布尔 | 启用或禁用静态缺陷校正 | Neo, Zyla |
索利斯
在Solis中,用户可以使用Andor basic中的以下命令打开和关闭该功能:
booleanfeatureenable("StaticBlemishCorrection", 0)关闭静态缺陷修正
booleanfeatureenable("StaticBlemishCorrection", 1)打开静态缺陷更正
访问热像素映射
一些应用程万博电脑网页版登录序特别容易受到热点像素瑕疵的影响。传感器的热电冷却(例如在Neo中至-30摄氏度)有助于极大地减少传感器内此类热像素的出现,这意味着这些像素仍然可以用于有用的定量成像。然而,对于一些用户来说,了解剩余的热点像素群的位置仍然是有用的,这样他们就可以在处理阶段考虑这些热点像素群。
Andor可以与终端用户合作,生成sCMOS传感器的定制“热点像素图”。这张图将根据最终用户概述的实验条件生成,如曝光条件和强度阈值。