显微镜学校第11课 - 反卷积原理

每当对物理变量进行测量时，仪器的响应函数都会影响结果。仪器响应功能通常被描述为过滤器，以一种或另一种方式减少分辨率。在线性系统中，我们将测量过程数学为卷积对测量过程进行建模。如果我们了解仪器响应函数，那么我们可以构建计算算法以减少仪器的影响并以更大的保真度提供结果。计算过程和算法统称为反卷积。该方法适用于测量科学的所有领域。

在本演讲中，马克·布朗（Mark Browne）博士将着重于光学显微镜和卷积形成图像形成的概念。显微镜点扩展和光传递函数；以及如何应用它们来开发简单且迭代的反卷积算法。布朗博士将提出例子并确定要避免的常见陷阱。

学习目标：

• 显微镜中的重要参数
• 卷积形成图像
• 点传播功能和光传递功能
• 反卷积
• 光学畸变