Asylum Research网络研讨会：纳米力学的接触谐振工具

描述

纳米尺度的机械性能信息对于许多先进材料和纳米技术的应用是至关重要的。万博电脑网页版登录原子力显微镜技术用于探测纳米范围内样品的力学性质已经在过去的几十年里出现。与用于软样品的大量技术相比，很少有技术能够测量1-200 GPa范围内的模量。一种技术，接触共振(CR)，已被证明在这个范围内工作得很好。CR方法在接触模式下工作，在悬臂谐振频率附近进行动态激励，可以对各种材料进行敏感的测量。此外，通过对CR峰频率和质量因子的分析，可以获得准确、定量的弹性模量和粘弹性阻尼数据。

在本网络研讨会中，我们将解释不同的CR方法的测量的基本概念，包括：

• 点光谱
• 定性对比成像
• 定量映射

我们还将讨论对各种样本的接触共振和您可能遇到的一些陷阱和伪影的实际实施。最后，我们将出示CR方法已被用于改善对系统的理解的结果：

• 复合材料
• 薄膜
• 生物材料
• 聚合物共混物

CR方法的纳米力学表征能力，正如你将要了解到的，是当今和未来材料开发、生产和原位监测的重要工具。

关于你的讲师:

Donna Hurley博士在美国国家标准与技术研究所(NIST)材料测量实验室领导AFM纳米力学项目。她的项目团队创建并应用AFM测量技术进行材料性能表征。十多年来，她开发了用于定量纳米机械成像的接触共振AFM模式。她是众多技术文章的作者或合著者，包括最近发布的扫描探针声学技术章节(Springer-Verlag, 2012)和即将出版的工业应用中的SPM:纳米机械表征(John Wiley & Sons, 2013)。万博电脑网页版登录她拥有伊利诺伊大学香槟分校的物理学博士学位。在加入NIST之前，她曾在通用电气公司研究(纽约州斯克内克塔迪)和诺丁汉大学(英国)工作。

Roger Proksch博士是牛津仪器公司庇护研究的总裁兼庇护研究员。狗万正网地址他拥有超过20年的AFM经验。他共同撰写了许多论文，是众多AFM专利的共同发明人。他收到了他的博士学位。来自明尼苏达大学。