AFM:探索点击模式和调幅调频

原子力显微镜(AFM)是一种先进的工具，用于表征样品表面具有卓越的分辨率。这避免了光学显微镜方法，有利于扫描探针，它包括一个安装在悬臂上的极其锋利的探针尖端。这是光栅扫描的表面，以串行方式测量预定义的数量。分析人员利用原子力显微镜可以测量离散位置的形貌，摩擦学，纳米力学和热性能，电子特性，等等。

接触模式原子力显微镜通过连续跟踪悬臂的自由端在光栅扫描期间的位移来测量样品和探针尖端之间的相互作用。尖端与样品接触，电子反馈回路确保扫描过程中的挠度保持恒定，记录样品表面形貌作为垂直运动的函数。

这可能是一个问题，因为尖端和样品之间的高侧向力会导致样品表面的损坏和探头尖端的钝化。新的原子力显微镜模式已经被开发来克服这个问题。

轻击模式原子力显微镜

在攻丝模式原子力显微镜中，锐利的探针尖端在不断接触时不扫描样品表面。相反，悬臂在其共振频率附近振动，导致顶端上下振荡。这意味着探头只是断断续续地与表面紧密接触;因此,标题。

接触模式原子力显微镜测量探针-样品的相互作用力作为悬臂梁偏转的函数，这是使用光电二极管检测的。在敲击模式下，交互作用以振幅的变化来测量。两者都使用受控反馈回路，以确保在光栅扫描期间恒定的针尖-样本交互力，以获得尽可能高分辨率的图像。轻敲模式原子力显微镜的主要好处是减轻破坏性的横向力。

轻敲模式的一个缺点是它不能测量直接的力，因为锁定放大器只能报告关于作为力的函数的尖端-表面相互作用的平均响应。这造成了不稳定的反馈情况，限制了可获得的信息和与特定样本属性可靠相关的信息。然而，它仍然是原子力显微镜的主要成像方式。这主要是由于侧向无力成像的好处。

攻丝模式适用于无法承受常规接触探针高侧向力的脆弱样品的成像。准确而非侵入性地测量软质固体和有机组织的地形特征对于传统的操作模式来说是非常困难的。正常的攻丝模式有助于复杂样品的快速高分辨率表面成像，由于锐利的探针尖端的阻力，表面干扰很小甚至没有。

带有收容所研究的AM-FM粘弹性映射

Asylum研究公司结合了常规攻丝模式原子力显微镜的固有优点和振幅和频率调制(AM-FM)，提供了一种独特的双模式，能够对复杂样品进行快速光栅扫描。这提供了地形成像与存储和损失模量的定量估计，以促进极其精确的粘弹性映射。

这已经增加了对薄膜研究和开发的新层次的理解，以及大量额外的应用领域。如果你想了解更多，请随意联系直接成为团队成员。我们很乐意讨论点击模式原子力显微镜更详细地跟你说。

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