利用原子力显微镜(AFM)和能量色散x射线光谱法(EDS)测量二维材料

二维(2D)过渡金属二卤属化合物在电子器件中的应用前景令人振奋，并显示出取代传统硅技术的巨大潜力。万博电脑网页版登录围绕这些材料有很多挑战，包括制造集成和表征．由于它们的低维特性，这些材料需要高分辨率技术，比如AFM和扫描电镜，以表征一系列的性质和特征。

下载应用说明了解:

• AFM和SEM如何配备能量色散x射线光谱法，可以结合起来产生二维材料的完整结构和成分表征
• 二维过渡金属二卤属化合物取代硅技术的潜力
• 如何扫描开尔文探针显微镜(SKPM)，除了AFM形貌外，还可以帮助表征二维材料
• 利用互补技术表征二维材料层厚的重要性

(免费下载，由原子力显微镜技术领导者Asylum Research提供)