什么是电荷梯度显微镜（CGM）？

电荷梯度显微镜（CGM）是导电AFM（CAFM）这样可以测量极地表面上的筛选和极化电荷。与常规CAFM不同，样品没有外部偏见。相反，在样品上以高速度扫描AFM尖端，以从表面“刮擦”筛选离子，而CAFM放大器同时量化了电荷。它的高速使得不仅可以测量绑定电荷，还可以在非平衡条件下筛选过程的动力学。例如，收集的电荷可以作为样品周围空气相对湿度的函数测量。该申请说明为这些测量值提供了一个示例，这些测量是在代表性的极性表面上定期定期二旋硅（PPLN）的。

申请说明描述：