在FORC-IVZ测量过程中形成的银颗粒

在FORC-IVZ测量过程中，在银离子导体底物上形成的树突状银颗粒。在阵列中的每个点上，都应用了由一系列三角形脉冲组成的电压偏置波形，并施加了增加的幅度。当对样品施加负偏置时，将银离子朝向尖端。当超过临界电位时，会发生电化学银还原过程，即形成银颗粒。另一方面，当对样品施加正偏置时，发生电化学银氧化（溶解）过程，并溶解银颗粒并降低高度。通过监测Z-V和I-V曲线，我们可以全面研究纳米级体积中的电化学过程，例如Ag-ion传导和Ag颗粒形成。图片由S. Yang，M.P。提供Paranthaman和S. Kalinin，Oak Ridge国家实验室。在一个扫描尺寸为12 µm的扫描尺寸上成像。