AFM图片库:纳米电测量

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导电AFM (CAFM) 静电力显微镜(EFM) 扫描微波阻抗显微镜(sMIM) 表面电位

导电AFM (CAFM)

DVD记录

SRAM芯片

氧化铝

纳米管

Europium-doped氧化锌

SRAM芯片

有机光伏薄膜

BFO薄膜上的PFM和CAFM测量

静电力显微镜(EFM)

回到顶端

充电率

PbS量子点

碳纳米管上的EFM

聚丙烯中的炭黑

金刚石薄膜

扫描微波阻抗显微镜(sMIM)

回到顶部

利用sMIM成像SRAM的直流电容图像

碳纳米管上的sMIM

半导体器件的sMIM

sMIM敏感性

sMIM数据通道

sMIM显示门故障

表面电位

回到顶端

双相钢

石墨烯和氮化硼

碳浸渍聚烯烃薄膜

PbS量子点

硒纳米线

聚合物薄膜的表面电位

Electronic traces

Three trace lines on a PC board (one broken), biased at different voltages, showing the broken trace in the potential. 57µm scan. Imaged with the MFP-3D AFM.

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电子痕迹

数据存储阵列

微凝胶薄膜

偏压电极

PMMA上的电荷模式

PMMA的表面电位

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