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原子力显微镜技术的进步极大地提高了大样本原子力显微镜的整体性能。Asylum Research邀请您了解新的Jupiter XR AFM如何提高AFM测量的精度和分辨率,并使许多材料样品(如薄膜、涂层、器件、聚合物等)的成像更快更容易。业内专家将讨论Jupiter的技术,以获得成功的定量结果和简便的操作。您还将看到现场演示,并有机会向我们的AFM专家请教。这对于有经验的AFM用户和缺乏经验的研究人员来说都是一个很好的机会,可以更多地了解AFM如何影响他们的项目。
注册是免费的,但由于座位有限,所有与会者必须注册。
如果您希望带样品来开放实验室,请在注册时表明您的兴趣,我们将与您联系,讨论您的样品并安排时间。名额有限。
讲座
辛格纳米技术中心
Glandt论坛
核桃街3205号
费城,宾夕法尼亚州19104
示范实验室
辛格纳米技术中心
017房间
校园地图
日期 |
时间 |
标题 |
主持人 |
6月11日 |
上午9:30至9:45 |
欢迎报名 |
Chris Orsulak,庇护研究 |
9:45 - 10:30 |
增加分辨率,速度和生产力与新的庇护研究木星XR大样本AFM |
Chris Orsulak,庇护研究 |
|
10:30 - 11:15 |
扫描微波阻抗显微镜 |
Ravi Chintala博士,PrimeNano, Inc。 |
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旧咖啡 |
午餐 |
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1:00 - 5:00 |
演示和开放实验室 |
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6月12日 |
下午9时至12时 |
演示和开放实验室 |
克里斯Orsulak庇护研究
484-456-5166